Probe Head
최고의 가공기술과 설계를 바탕으로 개발된 Kelvin Probe head는 높은 수명과 최적화된 Kelvin contact으로 고 전류를 필요로 하는 wafer에 대응이 가능합니다. LEENO fine pitch pin 또는 Cobra pin을 적용하여 92um pitch, 30k count이상의 Probe card 를 제공하여 드립니다.
Specifications
- Package type
Wafer (WLCSP)
- Pitch
92㎛~
- Testing Characteristics
Kelvin type, Cobra type, RF type
Product Series