White Point &Black Point Defect |
D < 120µm ; OK, 100µm≤ D ≤ 150µm ; 1ea OK , D > 150µm ; NG |
White Line & Black Line Defect |
Size : L ≤ 1000µm, W ≤ 30µm : OK |
White Stain & Black Stain Defect |
Gray Level Deviation Value ≤10 : OK |
Option |
Measurement of Uniformity |
※User 요구 사항에 따라 System Customize 가능합니다.
BLU 검사 시스템
ㆍ 검사 모델 ➡ 5.5” 이하의 Mobile Phone용 BLU
ㆍ 검사 시간 ➡ 4초 이하
ㆍ 강력한 결함 추출 알고리즘 ➡ Low Contrast 결함 검출
ㆍ 신뢰성 있는 계측 알고리즘 ➡ 정확한 결함 사이즈 계측
[투입 ➡ 휘도 검사 ➡ 자동 결함 검사 (정면 & 시야각) ➡ 보호지 합착 ➡ OK / NG 자동 배출] 과정을 통해
이물, 빛샘, 얼룩, Scratch, 균일도, 조립불량, LED 점등 불량 유무를 검사합니다