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(주)새론테크놀로지
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전자현미경, 전자빔용접기, 주사전자현미경(SEM), 전자빔, FE-SEM 전문 제조사
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제품 상세 정보
AIS2000C
(Scanning Electron Microscope)
설명 : 학교나 연구소의 고객들을 위하여 고안된 Academic Version II.의 Compact화된 Normal SEM입니다.
기술 및 인증 : CE Certficates
COMPACT SEM AIS2000C
“Academic Version”의 Compact形 Normal SEM
대학교 및 연구소 고객을 위한 실용적인 SEM
- 안정성 및 최적의 성능을 갖춘 SEM
- 5축 구동방식의 최적의 COMPACT SEM
- 최소의 설치 및 운용 공간으로 업무 효율 극대화
특징
1) 검증된 제품 안정성 및 최적의 성능을 갖춘 보급형 SEM
2) 5축 구동방식의 최적의 실용적인 가격대의 COMPACT SEM
3) 강력한 분석 S/W 및 다양한 측정 Tool 탑재!
4) ET-Type SE Detector (SE / BSE 영상모드) : 극-저가속 전압에서 영상 가능!
5) 최소의 설치 및 운영 공간 (Office환경 가능) : 540(W) X 570(D) X 1500(H)mm³
6) Low Vacuum Mode 지원
제품사양
| ELECTRON OPTIC SYSTEM | |||
| Resolution | 3nm@SE | Magnification | 10X ~ 300,000X(Max.) (Additional Digital Zoom 2X, 4X, 8X) |
| Accelerating Voltage | 0.2kV ~ 30kV | Image Shift | 250μm (X,Y), Image Rotation (360°) |
| Stage Motorization & Movement (X, Y, Z)mm | 3-Axis[X, Y, R] Motorized Stage Stage : 50/60/45 mm (Tilt 0° ~ 60°, Rotation 360°) |
Chamber | Dia. 190X210(H)mm |
전자현미경, 전자빔용접기, 주사전자현미경(SEM), 전자빔, FE-SEM 전문 제조사
(주)새론테크놀로지는 2001년 대한민국 역사에서 최초로 주사 전자현미경(SEM) 국산화 개발 성공 이래 사업화를 착수하여 나노 소재, 반도체, 화학, 섬유 등의 산업과 한국 과학 기술 발전에 이바지하며 기술력을 인정 받고 있습니다.
그동안 쌓아온 독자적 전자빔 Optic설계 기술을 토대로 국내 최고 사양의 전자현미경 제품과 다양한 고객의 수요에 따른 맞춤형 제품을 공급해 드리고 있습니다. 또한 가격 경쟁력에 치중한 국내 후발 업체의 저가 제품화에 대한 차별화와 첨단 기술력을 앞세운 해외 경쟁사 제품과의 경쟁을 위해 Low-end부터 High-end까지 다양한 모델을 출시하고 있습니다.
앞으로도 당사는 고객 만족과 감동을 위해 최적의 제품과 차별화된 application solution을 공급해 드리기 위해 노력할 것이며, 글로벌 브랜드 기업으로 거듭나기 위해 자체 기술 경쟁력을 꾸준히 확보하고 차세대 첨단 기술 개발을 위해 최선을 다할 것 입니다.