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Nano Manipultor&Probe
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Option&Sample Prep.
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(주)새론테크놀로지

전자현미경, 전자빔용접기, 주사전자현미경(SEM), 전자빔, FE-SEM 전문 제조사

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브랜드
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SKU
142771
제품명
Nano Manipultor&Probe
모델명
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제품 상세 정보

설명

The intended use of the probe-station SMARPROBE is the positioning of probes to analyze or manipulate samples fixed onto its sample stage. The system can be used for atmospheric probing of large samples up to nano-probing of the latest semi-conductor technologies within an electron microscope. If the intended use is nano-probing it is recommended to choose the SMARPROBE LX with an active temperature control for low thermal drift (L) and/or with an extended scan range for vibration free fine-positioning (X). Typical applications of the SMARPROBE are:

 

제품사양

GENERAL SPECIFICATIONS
Operating Environment HV (10-7 mbar), Ambient Conditions Plasma Cleaning Plasma Cleaning
Numbers of Manipulators Up to 8 Coarse Driving Principle Piezo Stick-Slip
Fine Driving Principle¹ Piezo Scanner Relative Drift between Probe and Sample >1,< 1 for L Extension
Max. Probing Area [mm] 25×25 Max. Sample Size [mm] 25×25, larger size will reduce the probing area
Min. SEM Working Distance [mm] 1 for 10×10 Samples
2 for 25×25 Samples		 Base Materials Aluminum/Titan
Dimensions Nanoprober, W x L x H [mm] 187 x 187 x 56 for 5-8 Manipulators (SP8)
156 x 156 x 56 for 2-4 Manipulators (SP4)		    
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(주)새론테크놀로지는 2001년 대한민국 역사에서 최초로 주사 전자현미경(SEM) 국산화 개발 성공 이래 사업화를 착수하여 나노 소재, 반도체, 화학, 섬유 등의 산업과 한국 과학 기술 발전에 이바지하며 기술력을 인정 받고 있습니다. 그동안 쌓아온 독자적 전자빔 Optic설계 기술을 토대로 국내 최고 사양의 전자현미경 제품과 다양한 고객의 수요에 따른 맞춤형 제품을 공급해 드리고 있습니다. 또한 가격 경쟁력에 치중한 국내 후발 업체의 저가 제품화에 대한 차별화와 첨단 기술력을 앞세운 해외 경쟁사 제품과의 경쟁을 위해 Low-end부터 High-end까지 다양한 모델을 출시하고 있습니다. 앞으로도 당사는 고객 만족과 감동을 위해 최적의 제품과 차별화된 application solution을 공급해 드리기 위해 노력할 것이며, 글로벌 브랜드 기업으로 거듭나기 위해 자체 기술 경쟁력을 꾸준히 확보하고 차세대 첨단 기술 개발을 위해 최선을 다할 것 입니다.
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